一种 PCB 精密测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1915284. 3)
一种半导体高频测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1916409.4)
一种超紧凑型探针 (专利号: ZL 2022 2 1916420.0)
一种集成电路用长寿命测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1915308.5)
一种能控制开与关的测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1396108.3)
一种适应大电流的测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1396476.8)
一种双头测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1396422.1)
一种芯片用超高精度测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1276307.0)
一种新型双头大电流测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1276546.6)
一种自动测试探针 (专利号: ZL 2022 2 1276488.7)